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芯片底部填充膠可靠性有哪些檢測(cè)要求?

發(fā)布時(shí)間:2025-11-19 15:18:34 責(zé)任編輯:漢思新材料閱讀:16

芯片底部填充膠Underfill在先進(jìn)封裝(如Flip Chip、CSP、2.5D/3D IC等)中起著至關(guān)重要的作用,主要用于緩解焊點(diǎn)因熱膨脹系數(shù)(CTE)失配產(chǎn)生的熱機(jī)械應(yīng)力,提高器件的可靠性和使用壽命。為確保其性能滿足應(yīng)用要求,底部填充膠需經(jīng)過一系列可靠性檢測(cè)。以下是常見的檢測(cè)要求和測(cè)試項(xiàng)目:


 

 

 

 

一、基本性能檢測(cè)

 

1.粘度與流動(dòng)性 

檢測(cè)膠體在毛細(xì)作用下的流動(dòng)能力,確保能充分填充芯片與基板之間的間隙。

測(cè)試方法:旋轉(zhuǎn)粘度計(jì)、毛細(xì)流動(dòng)測(cè)試。

 

2,固化特性 

包括固化溫度、時(shí)間、放熱峰、固化收縮率等。

測(cè)試方法:DSC(差示掃描量熱法)、TGA(熱重分析)。

 

3.玻璃化轉(zhuǎn)變溫度(Tg 

決定材料在高溫下的剛性保持能力。

測(cè)試方法:DMA(動(dòng)態(tài)力學(xué)分析)、DSC。

 

4.熱膨脹系數(shù)(CTE

尤其關(guān)注低于和高于Tg時(shí)的CTE值,需與芯片/基板匹配以減少熱應(yīng)力。

測(cè)試方法:TMA(熱機(jī)械分析)。

 

5,模量(彈性模量、剪切模量) 

影響應(yīng)力緩沖效果,過高或過低均可能影響可靠性。

測(cè)試方法:DMA、拉伸/剪切試驗(yàn)。

 

 

二、可靠性環(huán)境測(cè)試(加速壽命試驗(yàn))

 

1.溫度循環(huán)測(cè)試(Thermal Cycling, TC

模擬實(shí)際使用中反復(fù)熱脹冷縮對(duì)焊點(diǎn)和填充膠的影響。

·常見條件:-55°C ? +125°C500~3000 cycles。

·評(píng)估指標(biāo):電性能連續(xù)性、焊點(diǎn)開裂、膠體開裂或脫層。

 

2.高溫高濕存儲(chǔ)(THB / HAST

THBTemperature Humidity Bias):85°C/85%RH,加偏壓。

HASTHighly Accelerated Stress Test):130°C/85%RH 或更高,不加/加偏壓。

評(píng)估膠體吸濕性、離子遷移、腐蝕風(fēng)險(xiǎn)及界面附著力。

 

3.高溫存儲(chǔ)(HTS

150°C175°C下存儲(chǔ)1000小時(shí)以上,考察長期熱穩(wěn)定性。

 

4.回流焊模擬測(cè)試

模擬多次無鉛回流焊過程(如260°C峰值),驗(yàn)證膠體是否耐受組裝工藝。

 

三、界面與結(jié)構(gòu)完整性檢測(cè)

1.附著力測(cè)試(Adhesion Test

膠體與芯片鈍化層(如SiO?、SiN)、基板(如FR-4BT樹脂)之間的結(jié)合強(qiáng)度。

方法:劃痕測(cè)試、剝離測(cè)試、剪切測(cè)試。

 

2.空洞與填充完整性檢查

X-ray、聲學(xué)掃描顯微鏡(SAT/C-SAM)檢測(cè)填充是否完全、是否存在氣泡或空洞。

 

3.裂紋與分層觀察

可靠性測(cè)試后通過剖面SEM/FIBSAT檢查膠體是否開裂、脫層。

 

四、電性能相關(guān)要求(視應(yīng)用場(chǎng)景)

·體積電阻率 / 表面電阻率

·介電常數(shù)(Dk)與損耗因子(Df)(高頻應(yīng)用尤其重要)

·離子雜質(zhì)含量(Na?、Cl?等,影響電遷移) 

 

五、行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)參考

·JEDEC 標(biāo)準(zhǔn)(如 JESD22-A104 溫度循環(huán)、JESD22-A110 HAST

·IPC 標(biāo)準(zhǔn)(如 IPC-TM-650 系列)

·AEC-Q 系列(車規(guī)級(jí)應(yīng)用,如 AEC-Q100/Q200 

 

總結(jié)

底部填充膠的可靠性檢測(cè)是一個(gè)多維度、系統(tǒng)性的過程,需結(jié)合材料性能、工藝兼容性、環(huán)境適應(yīng)性以及最終產(chǎn)品的應(yīng)用場(chǎng)景(消費(fèi)電子、汽車電子、航空航天等)綜合評(píng)估。對(duì)于高可靠性領(lǐng)域(如汽車、醫(yī)療、軍工),測(cè)試條件更為嚴(yán)苛,周期更長。漢思新材料提示,如需針對(duì)特定應(yīng)用場(chǎng)景(如車規(guī)芯片、AI GPU封裝)提供詳細(xì)測(cè)試方案,可進(jìn)一步說明需求。


 


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